PANalytical- Hệ thống Nhiễu xạ tia X-X'Pert³ MRD

Nhà sản xuất: PANalytical

Giá bán

0₫

Thông số kỹ thuật

Thế hệ mới của hệ thống nghiên cứu vật liệu Nhiễu xạ đa năng:

Lịch sử lâu dài và thành công của Hệ Nhiễu xạ tia X Nghiên cứu Vật liệu (MRD) của PANalytical tiếp tục với thế hệ mới - X'Pert³ MRD và X'Pert³ MRD XL. Hiệu suất được cải thiện và độ tin cậy của nền tảng mới đã thêm nhiều khả năng phân tích và sức mạnh cho các nghiên cứu Nhiễu xạ tia X trong

- Khoa học vật liệu tiên tiến
- Khoa học và công nghiệp màng mỏng
- Đặc tính đo lường trong quá trình phát triển quy trình bán dẫn
- Cả hai hệ thống xử lý cùng một phạm vi rộng các ứng dụng với mapping wafer đầy đủ lên đến 100 mm (X'Pert³ MRD) hoặc 200 mm (X'Pert³ MRD XL).

Thông số kỹ thuật:

Đặc tính kỹ thuật
Bộ đo góc – bước đo	Bước đo tối thiểu 0.0001˚
Bộ đo góc – Bán kính	Bán kính: X’Pert³ MRD 320 mm (ngang); Bán kính: X’Pert³ MRD XL 420 mm (ngang)
Open Eulerian Cradle- Chi Rotation	+/- 92˚
Open Eulerian Cradle- Phi Rotation	2 x 360˚
Open Eulerian Cradle- x,y translation	100 x 100 mm (X’Pert³ MRD); 200 x 200 mm (X’Pert³ MRD XL)
Open Eulerian Cradle- z translation	minimum step size 1 µm
C-to-C Wafer Loaders- Size	2” to 150 mm; 100 to 300 mm

Phiên bản tiêu chuẩn nghiên cứu và phát triển để sử dụng với các mẫu màng mỏng, tấm mỏng (bản đồ hoàn chỉnh lên đến 100 mm) và vật liệu rắn. Khả năng phân tích độ phân giải cao được cải thiện nhờ tính chính xác nổi bật của máy đo góc độ cao mới có độ phân giải cao sử dụng bộ mã hóa Heidenhain.

Các tính năng ưu việt:

Bản đồ wafer lên đến 200 mm đáp ứng tất cả các yêu cầu phân tích XRD có độ phân giải cao
Khả năng phân tích độ phân giải cao được cải thiện nhờ tính chính xác nổi bật của Bộ đo góc cao sử dụng bộ mã hóa Heidenhain.
Cung cấp tuổi thọ dài nhất của các thành phần chùm tia tới (CRISP) và thời gian hoạt động tối đa với bộ đóng thủy lực và chùm khuếch đại tia
Với nền tảng gắn kết PreFIX thế hệ thứ 2, cấu hình lại dễ dàng trong vài phút và định vị lại hệ quang học chính xác hơn bao giờ hết.
Cho phép đo nhiễu xạ từ mặt phẳng lattice vuông góc với bề mặt mẫu.
Possible standard and in-plane geometries on one system and a wide range of diffraction experiments on polycrystalline and highly perfect thin films.
• Hệ quang học tiêu chuẩn trên mặt phẳng trên một hệ thống và một loạt các thí nghiệm nhiễu xạ trên các màng mỏng đa tinh thể và hoàn hảo.