Máy quang phổ nhiễu xạ tia X PANalytical X'Pert 3 MRD

Nhà sản xuất: PANalytical
Giá bán
0₫
Báo giá

Máy quang phổ nhiễu xạ tia X PANalytical X'Pert3 MRD

Hệ nhiễu xạ tia X đa năng, tiết kiệm chi phí

X'Pert³ Powder là hệ thống nhiễu xạ tia X mới nhất của PANalytical dựa trên nền tảng X'Pert được làm mới lại hoàn toàn. Với hệ thống điện tử điều khiển mới, tuân thủ các tiêu chuẩn mới nhất và nghiêm ngặt nhất về an toàn bức xạ, tiến bộ về thân thiện với môi trường và độ tin cậy, X'Pert³ Powder đã sẵn sàng cho tương lai. Hệ thống này cung cấp một giải pháp giá cả phải chăng, chất lượng cao và định lượng, phân tích ứng suất, phản xạ tia X, tán xạ tia X góc nhỏ, phân tích chức năng phân bố cặp và nhiễu xạ non – ambient

Chứng  minh

Với lịch sử gần 20 năm, hơn 2500 hệ thống được lắp đặt, và cải tiến hàng năm, nền tảng X'Pert đã trở thành Thiết bị nhiễu xạ tia X phổ biến nhất và đáng tin cậy nhất trên thế giới. Với nhiều đổi mới được áp dụng từ nền tảng Empyrean cao cấp, Hệ Nhiễu xạ X'Pert³ Powder đã sẵn sàng cho tương lai.

Đáng tin cậy:

Khách hàng của X'Pert đã và đang sử dụng hệ thống của họ trong nhiều năm (thường là 24/7), đánh giá cao độ tin cậy, tính mạnh mẽ và chi phí hoạt động thấp. Với công nghệ CRISP *, X'Pert³ Powder được đưa đến một cấp độ mới về hiệu suất và tuổi thọ.

CRISP là viết tắt của chùm tia thông minh chống ăn mòn. CRISP là một công nghệ được cấp bằng sáng chế và ngăn ngừa sự ăn mòn trong đường đi của chùm tia gây ra bởi không khí ion hoá gây ra bởi tia X.

Dễ dàng mở rộng:

Thay đổi chương trình nghiên cứu và các dự án nguyên vật liệu theo hướng mới. Với công nghệ PreFIX, hệ thống X'Pert³ có thể dễ dàng được nâng cấp khi ứng dụng mới phát sinh hoặc khi có các hệ thống quang học mới. Các cấu hình quang khác nhau cho thấy không có sự thỏa hiệp trong độ phân giải hoặc cường độ khi chuyển đổi giữa các ứng dụng.

Dễ dàng vận hành:

X'Pert³ Powder nổi bật với tính thân thiện với người sử dụng, với cách làm việc nhất quán bất chấp ứng dụng. Bộ phần mềm thu thập và phân tích dữ liệu hoàn chỉnh giúp người dùng mới trực tiếp tìm hiểu phương pháp và tạo ra các kết quả chất lượng tốt ngay từ đầu.

Khả năng tương thích với một loạt các đầu dò:

X'Pert³ Powder có thể được trang bị đầu dò điểm hoặc đường. Một đầu dò rất hiệu quả là đầu dò Xe của chúng tôi được gắn kín, trong khi đầu dò nhấp nháy của chúng tôi rất thích hợp cho các ứng dụng bức xạ cứng như phân tích chức năng phân bố cặp.

Là thê hệ đầu dò dòng độ nhạy cao silicon đầu tiên trên thế giới, X'Celerator với 128 kênh 70 μm là biểu hiện của công trình tiên phong của PANalytical. Với máy dò X'Celerator được R & D 100 đoạt giải, bạn có thể đo nhanh hơn gấp 100 lần so với đầu dò điểm truyền thống mà không ảnh hưởng tới chất lượng dữ liệu. Nếu không cần nước làm mát, lưu lượng nitơ lỏng, tính khí hoặc hiệu chuẩn, nó là một giải pháp hiệu quả về chi phí.

Một bước tiến nữa là đầu dò PIXcel1D. Được phát triển cùng với CERN, PIXcel1D với 256 kênh 55 μm cung cấp cho bạn độ phân giải cao, một dải động chưa từng có và tỷ lệ số tuyến tính cao. Cả hai, máy dò X'Celerator và PIXcel1D đều không có dải chết.

Thông số kỹ thuật

Thân máy chính – Kích thước1370 (w) x 1131 (d) x 1972 (h) mm
Thân máy chính – Trọng lượng1100 kg
Thân máy chính – An toànĐáp ứng các quy định trên toàn thế giới về an toàn điện, cơ và tia X trên toàn thế giới, với tất cả các vật liệu anode
Bộ đo góc – cấu hìnhBộ đo góc thẳng đứng, theta-theta
Bộ đo góc – đường kính và giao diệnBán kính 240 mm, có sẵn các giao diện để giảm bán kính chùm nhiễu xạ cho các ứng dụng cụ thể
Bộ đo góc – Độ chính xácHệ thống định vị mã hoá quang học trực tiếp (DOPS) cho độ chính xác thời gian trơn
Bộ đo góc – Dải đoDải đo dụng tối đa (phụ thuộc vào phụ kiện)-40°< 2θ <220°
Nguồn X-Ray - Ống X-RayCác ống tia X bằng gốm được sản xuất bởi nhà máy chuyên dụng của PANalytical trong điều kiện phòng sạch
Nguồn X-Ray – Nguồn phátNguồn phát 3 kW hỗ trợ tất cả các ống tia X hiện tại và tương lai
Nguồn X-Ray – tuổi thọVỏ ống không có Pb. Thiết kế được cấp bằng sáng chế với công nghệ CRISP. Công nghệ CRISP ngăn ngừa sự ăn mòn trong đường đi của chùm tia gây ra bởi không khí ion hóa do tia X gây ra.

Các đặc điểm ưu việt

  • Đáng tin cậy cho các hoạt động 24/7, cùng với tính mạnh mẽ và chi phí hoạt động thấp
  • Tùy chọn quang học và đầu dò cho các ứng dụng khác nhau
  • Thu thập dữ liệu thân thiện và phần mềm phân tích dữ liệu
  • Đầu dò đường Silicon-based position-sensitive line X'Celerator cho phép đo nhanh hơn 100 lần so với các máy dò điểm truyền thống

Panalytical - Tại sao chúng ta phân tích vật liệu bằng phương pháp nhiễu xạ tia X?

Thông tin liên hệ:

Ms. Nguyễn Thị Mai Trâm

Email: tram.thimai.nguyen@dksh.com

Điện thoại: +84 909 442 100

Một số sản phẩm liên quan khác