Máy quang phổ huỳnh quang tia X PANalytical Epsilon 1

Nhà sản xuất: PANalytical
Giá bán
0₫
Báo giá

PANalytical – Thiết bị Huỳnh quang Tán xạ năng lượng để bàn EPSILON 1 cho phân tích điểm nhỏ

Bạn có cần phân tích các nguyên tố của trong các vật nhỏ hoặc các vật nhỏ trong thiết bị điện tử, đồ chơi, đồ trang sức, đá hoặc thành phẩm? Epsilon 1 cho phân tích điểm nhỏ, một quang phổ huỳnh quang huỳnh quang nhỏ gọn, là giải pháp phân tích lý tưởng cho một phân tích điểm linh hoạt và chính xác.

Quy trình đo được dễ dàng và đơn giản: Đặt bất kỳ mẫu hình nào trực tiếp vào máy quang phổ mà không cần chuẩn bị mẫu. Đặt chi tiết yêu cầu ở trên vị trí đo nhỏ bằng một máy ảnh màu, bắt đầu đo và nhận kết quả.

Do thiết kế khép kín và foot print nên Epsilon 1 có thể được đặt gần vị trí mẫu, làm cho thiết bị trở thành một giải pháp lý tưởng cho bất kỳ phân tích nguyên tố nào trong các cơ sở sản xuất, các địa điểm thăm dò, tại quầy hàng hoặc thậm chí tại các địa điểm tội phạm cho các cuộc điều tra Pháp y.

Hiệu suất của quang phổ phù hợp với các phương pháp thử nghiệm tiêu chuẩn theo yêu cầu của các hướng dẫn và quy định khác nhau trong các thị trường công nghiệp khác nhau, như RoHS-2 cho điện tử và CPSIA cho hàng tiêu dùng.

Thông số kỹ thuật chính và các lựa chọn:

Xử lý mẫuỐng tia XĐầu dòSoftware features
Bất kỳ mẫu có kích thước tối đa là 15 x 12 x 10 cm (WxDxH)Ống Xray bằng gốm có độ bền cao 15 WattĐộ phân giải cao, thường là 135 eVOmnian phân tích không chuẩn, sẵn sàng cho bất kỳ mẫu nào
Định vị mẫu với máy ảnh màu và hình cắt ngang kỹ thuật sốDòng điện cực đại 1.5 mA, để có độ nhạy tối đa cho phân tích vếtĐầu dò SDD10 với khả năng đếm caoTự động lưu trữ hình ảnh camera
Bảo vệ khỏi bụi và hư hạiAnode bạc, lý tưởng cho hầu hết các yếu tố của hệ tuần hoànCửa sổ berillium rất mỏng trong suốtChế độ vận hành để vận hành dễ dàng
Điện áp tối đa 50 kV, lý tưởng để phân tích các yếu tố nặng hơnChế độ nâng cao để thiết lập các ứng dụng chuyên biệt

Các tính năng chính:

EPSILON 1 cho phân tích điểm nhỏ

  • Phân tích không phá hủy

Các phép đo được thực hiện trực tiếp trên mẫu với sự chuẩn bị rất ít hoặc không cần chuẩn bị mẫu. Vì XRF là một kỹ thuật không phá hủy, mẫu này cũng có thể được đo bằng các kỹ thuật phân tích khác, nếu cần.

  • Phân tích điểm nhỏ:

Các mảnh nhỏ hoặc các vết nhỏ trong mẫu có thể được phân tích dễ dàng bằng một chùm tia X được thuôn. Kích thước vết trên mẫu điển hình là 0.8 x 1.2 mm.

  • Định vị mẫu:

Với sự trợ giúp của máy ảnh màu và crosshair trong hình ảnh, người sử dụng có thể tự đặt mẫu vào vị trí phân tích của máy

  • Báo cáo phân tích

Sau mỗi phân tích, một bức ảnh của điểm phân tích được lưu trữ trên máy tính tích hợp. Với một nhấp chuột duy nhất một báo cáo phân tích được tạo ra bao gồm các bức ảnh.

Thông tin liên hệ:

Ms. Nguyễn Thị Mai Trâm

Email: tram.thimai.nguyen@dksh.com

Điện thoại: +84 909 442 100

Một số sản phẩm liên quan khác