Panalytical - Máy quang phổ nhiễu xạ tia X – XRD Aeris

Nhà sản xuất: PANalytical

Giá bán

0₫

Thông số kỹ thuật

Phân tích sẽ dễ dàng hơn với máy đo nhiễu xạ tia X Aeris hoàn toàn mới.

Máy quang phổ nhiễu xạ tia X Aeris gây ấn tượng bởi chất lượng và tốc độ thu thập dữ liệu nổi trội. Công cụ này có thể truy cập được với màn hình cảm ứng tích hợp và phần mềm trực quan.

Là một sản phẩm của PANalytical đảm bảo cung cấp dữ liệu tốt nhất và tự động hóa hoàn toàn cho các ứng dụng công nghiệp. Máy quang phổ nhiễu xạ tia X Aeris được thiết kế cho chi phí sở hữu thấp và có sẵn trong 4 phiên bản phù hợp với nhu cầu của các thị trường cụ thể: phiên bản xi măng, khoáng sản, kim loại và nghiên cứu.

TÍNH NĂNG CHÍNH

Tích hợp tự động

Máy đo nhiễu xạ để bàn tự động duy nhất cho thông lượng mẫu cao

Máy quang phổ nhiễu xạ tia X Aeris có thể xử lý mẫu nhanh và tự động.

Kết hợp các công nghệ

Giải pháp cung cấp đặc tính vật liệu đầy đủ bằng cách thêm thông tin thành phần nguyên tố từ hệ thống Zetium vào nhận dạng pha của hệ thống quang phổ nhiễu xạ tia X Aeris.

Giữ mẫu tiêu chuẩn công nghiệp phù hợp với nhu cầu:

Bộ sưu tập mẫu giữ 51,5 mm
Giá đỡ mẫu 40 mm

Phân tích nhanh, thời gian hoạt động tối đa

Phân tích nhanh chóng cho phép can thiệp sớm để tối ưu hóa quy trình. Thời gian đo thông thường của máy quang phổ nhiễu xạ tia X Aeris là dưới 10 phút mỗi mẫu.

Thời gian hoạt động của thiết bị phân tích là chìa khóa để kiểm soát quá trình. Máy quang phổ nhiễu xạ tia X Aeris được thiết kế cho thời gian hoạt động tối đa.

Mạnh mẽ

Thiết kế chắc chắn

Thiết bị XRD để bàn duy nhất có tải mẫu bên ngoài để bảo vệ bụi tối ưu cho trái tim của thiết bị.

Không có nước làm mát, không làm lạnh, không khí nén - điều duy nhất cần là ổ cắm điện một pha.

Tương thích với tất cả các tiêu chuẩn chung của ngành; từ các giao thức giao tiếp LIMS đến các chủ sở hữu mẫu tiêu chuẩn công nghiệp khác nhau.

Một chạm dễ dàng

Máy đo nhiễu xạ tia X trực quan

Với màn hình cảm ứng tích hợp, cho kết quả luôn chỉ cần một vài thao tác: