2323123

TA Instruments Xenon Flash Instruments DXF 500 - Thiết bị đo độ khuếch tán Flash

Nhà sản xuất: TA Instruments
Giá bán
0₫
Báo giá

Thiết bị đo độ khuếch tán Flash  

Kỹ thuật Light Flash cung cấp thông tin về khả năng lưu trữ và truyền nhiệt của vật liệu thông qua các phép đo độ khuếch tán nhiệt, độ dẫn nhiệt và nhiệt dung riêng. Sự tìm hiểu kỹ lưỡng về các đặc tính này rất quan trọng đối với bất kỳ quá trình hoặc vật liệu nào trải qua gradient nhiệt độ/ tốc độ lớn, hoặc khả năng chịu sự thay đổi nhiệt độ. Đạt được kết quả chính xác của các đặc tính này là điều cần thiết để lập mô hình và quản lý nhiệt, cho dù thành phần quan tâm được sử dụng để cách nhiệt, dẫn điện hay chỉ đơn giản là chịu đựng sự thay đổi nhiệt độ. Những thông tin về các đặc tính này thường được sử dụng trong các mô hình truyền nhiệt ở mọi mức độ phức tạp. Sự đo lường các đặc tính truyền nhiệt cũng cung cấp thông tin quan trọng về thành phần, độ tinh khiết và cấu trúc của vật liệu cũng như các đặc tính hiệu suất thứ và khả năng chịu đựng vấn đề sốc nhiệt. 

TA Instruments cung cấp các máy phân tích khuếch tán Laser và Xenon Light Flash có khả năng đo độ khuếch tán nhiệt bằng phương pháp flash từ nhiệt độ -150 độ C tới 2800 độ C. Tất cả các hệ thống bao gồm khả năng thử nghiệm nhiều mẫu giúp tăng năng suất lên gấp nhiều lần. Lập bản đồ xung quang học chính xác và các mô hình phân tích dữ liệu mới nhất giúp nền tảng Discovery Flash trở thành hệ thóng có những kết quả chính xác nhất. 

TA Instruments Xenon Flash Instruments DXF 500 

The Discovery Xenon Flash DXF 500 - nền tảng có nguồn High-Speed Xenon-pulse Delivery được cấp bằng sáng chế và anamorphic Light Pipe nhiều chức năng. Các quang học này kết hợp với nhau để tạo ra một xung ánh sáng có công suất vượt trội và cường độ mẫu đồng nhất, đồng thời ngăn chặn quá trình over-flash mẫu. Thiết kế của TA Instruments High-energy Xenon có khả năng thử nghiệm các mẫu có đường kính 25,4 mm trong phạm vi nhiệt độ từ môi trường xung quanh đến 500 độ C. Việc sử dụng nhiều mẫu làm giảm các sai sót liên quan đến tính không đồng nhất và cho phép đo lường các vật liệu tổng hợp phân tán kém. Nền tảng DXF được thiết kế cho các chương trình nghiên cứu và phát triển cũng như kiểm soát sản xuất. 

Chi tiết và lợi ích: 

  • Hệ thống High-Speed Xenon Pulse-Delivery được cấp bằng sáng chế, có khả năng cung cấp hơn 50% năng lượng so với các thiết kế cạnh tranh  

  • Light pipe được cấp bằng sáng chế để thu thập và chuẩn trực ánh sáng và phân phối đồng nhất bức xạ tới mẫu. 

  • Bản đồ xung thời gian thực đo lường độ khuếch tán chính xác của những vật liệu mỏng và có dẫn điện cao. 

  • Nhiều loại khay đựng mẫu có thể chứa nhiều kích thước (lên đến 25.4 mm), hình dạng, chi tiết như chất lỏng, bột, cán mỏng, màng và vv để nâng cao sự linh hoạt tối đa 

  • Bộ lấy mẫu tự động với khay nhôm 4 vị trí đã được cấp bằng sáng chế giúp đạt được năng suất tối đa. 

  • Lò nung nóng tiên tiến với hiệu suất nhiệt độ không giới hạn từ RT đến 900 độ và cho phép người sử dụng được đo trong không khí, khí trơ hoặc chân không 

  • Đầu dò hồng ngoại có độ nhạy cao, tối ưu tỷ lệ tín hiệu nhiễu mang lại độ chính xác cao nhất 

  • Đáp ứng nhiều phương pháp kiểm tra tiêu chuản công nghiệp bao gồm: ASTM E1461, ASTM C714, ASTM E2585, ISO 13826, ISO 22007-Part4, ISO 18755, BS ENV 1159-2, DIN 30905, and DIN EN821

 

TA Instruments cung cấp thiết bị đo tính dẫn nhiệt và độ khuếch tán 

TA Instruments cung cấp các thiết bị đa dạng và toàn diện nhất để đo lường đặc tính truyền nhiệt của nhiều loại vật liệu với nhiệt độ khác nhau một cách chính xác nhất. Độ dẫn nhiệt, độ khuếch tán nhiệt và nhiệt dung - có thể xác định khả năng lưu trữ và truyền nhiệt của vật liệu. Việc đo lường chính xác các đặc tính này rất quan trọng đối với bất kỳ quá trình hoặc vật liệu nào trải qua gradient nhiệt độ/ tốc độ lớn, hoặc khả năng chịu sự thay đổi nhiệt độ. 


Cần hỗ trợ thêm thông tin, Quý khách vui lòng liên hệ:

Ms. Lê Thị Thùy Trang, Phòng Marketing, DKSH

Hotline: 0906 654 815

Email: tecinfo.vn@dksh.com