Hội thảo online: Giới thiệu về phương pháp đo nhiễu xạ tia X trên mẫu bột
Phân tích và giải thích thông số dữ liệu XRD tốt hơn.
Trong nghiên cứu vật liệu, các nhà khoa học có nhiều câu hỏi phân tích liên quan đến cấu trúc tinh thể của mẫu vật liệu. Phương pháp nhiễu xạ tia X (XRD) là kỹ thuật phòng thí nghiệm duy nhất cho phép truy cập thông tin cấu trúc như thành phần hóa học, cấu trúc tinh thể, kích thước tinh thể, biến dạng, định hướng và độ dày lớp. Do đó, các nhà nghiên cứu vật liệu sử dụng XRD nhằm phân tích vật liệu, từ nhiễu xạ tia X trên mẫu bột (XRPD) đến chất rắn, màng mỏng và vật liệu nano.
Để có thể cải thiện phân tích đặc tính, tham gia ngay hội thảo online về giải pháp XRD của chúng tôi, với nội dung được thiết kế giúp bạn đạt được dữ liệu XRD tốt hơn. Điều này đòi hỏi người dùng phải am hiểu làm thế nào để lấy mẫu thích hợp, chuẩn bị mẫu, thiết lập và chọn cấu hình XRD phù hợp dựa trên loại mẫu bạn muốn phân tích. Thu thập dữ liệu chỉ là bước đầu tiên. Tinh chỉnh dữ liệu có ý nghĩa rất quan trọng đối với các quyết định liên quan đến nghiên cứu và phát triển của bạn.
Trong hội thảo online này, Tiến sĩ Daniel Lee, chuyên gia ứng dụng của Malvern Panalytical sẽ giới thiệu về kỹ thuật XRD. Tham dự hội thảo này để trang bị cho mình một nền tảng tốt về XRD, từ lý thuyết về luật Braggie cho đến cơ chế vật lý của máy đo nhiễu xạ tia X.
Tại sao cần tham dự hội thảo online này?
- Tìm hiểu về những điều cơ bản của phân tích nhiễu xạ tia X trong mô tả đặc tính vật liệu
- Nguyên tắc cơ bản của luật Braggie
- Đặc tính của máy đo nhiễu xạ tia X (vì điều đó có ý nghĩa đối với cách bạn chuẩn bị mẫu, thiết lập dụng cụ; về cơ bản là tất cả các bước cần thiết để đạt được chất lượng dữ liệu tốt nhất có thể)
Những ai cần tham dự?
- Các nhà nghiên cứu liên quan đến phân tích đặc tính vật liệu, những người muốn tìm hiểu thêm về nhiễu xạ tia X
- Các ngành liên quan bao gồm những ngành nghiên cứu về pin, luyện kim bột, xi măng, khai thác mỏ và khoáng sản, giám sát môi trường, dược phẩm,...
- Các chuyên viên R&D và các nhà lãnh đạo sản xuất chịu trách nhiệm lựa chọn phân tích phù hợp
- Các nhà khoa học tham gia phát triển phương pháp cho các vật liệu mới hoặc hỗ trợ điều tra phân tích nguyên nhân để hỗ trợ sản xuất sản phẩm
Thông tin chi tiết hội thảo:
- Thời gian: 12:00pm ngày 22/04/2020
- Thời lượng: 30 phút
- Ngôn ngữ: Tiếng Anh
Để đăng ký tham dự hội thảo, Quý khách vui lòng liên hệ:
Ms. Nguyễn Thị Mai Trâm
Email: tecinfo.vn@dksh.com
Điện thoại: 0906 654 815
Hoặc đăng ký đầy đủ thông tin như form bên dưới:
Viết bình luận