Trong nghiên cứu vật liệu, các nhà khoa học có nhiều câu hỏi phân tích liên quan đến cấu trúc tinh thể của mẫu vật liệu. Phương pháp nhiễu xạ tia X (XRD) là kỹ thuật phòng thí nghiệm duy nhất cho phép truy cập thông tin cấu trúc như thành phần hóa học, cấu trúc tinh thể, kích thước tinh thể, biến dạng, định hướng và độ dày lớp. Do đó, các nhà nghiên cứu vật liệu sử dụng XRD nhằm phân tích vật liệu, từ nhiễu xạ tia X trên mẫu bột (XRPD) đến chất rắn, màng mỏng và vật liệu nano.

Để có thể cải thiện phân tích đặc tính, tham gia ngay hội thảo online về giải pháp XRD của chúng tôi, với nội dung được thiết kế giúp bạn đạt được dữ liệu XRD tốt hơn. Điều này đòi hỏi người dùng phải am hiểu làm thế nào để lấy mẫu thích hợp, chuẩn bị mẫu, thiết lập và chọn cấu hình XRD phù hợp dựa trên loại mẫu bạn muốn phân tích. Thu thập dữ liệu chỉ là bước đầu tiên. Tinh chỉnh dữ liệu có ý nghĩa rất quan trọng đối với các quyết định liên quan đến nghiên cứu và phát triển của bạn.

Trong hội thảo online này, Tiến sĩ Daniel Lee, chuyên gia ứng dụng của Malvern Panalytical sẽ giới thiệu về kỹ thuật XRD. Tham dự hội thảo này để trang bị cho mình một nền tảng tốt về XRD, từ lý thuyết về luật Braggie cho đến cơ chế vật lý của máy đo nhiễu xạ tia X.