Hội thảo online: Cải thiện tính năng mapping tìm pha bằng phân tích XRD

Nhiễu xạ tia X là một trong những công cụ tối ưu nhất nhằm xác định pha tinh thể. Bên cạnh đó còn có nhiều cơ sở dữ liệu, nhà tinh thể học có thể tham khảo đối chiếu, ví dụ như ICDD. Bằng cách so sánh vị trí và cường độ của đỉnh nhiễu xạ với thư viện có những pha tinh thể đã biết, vật chất sẽ được xác định, điều này được xem như là tính năng mapping tìm kiếm pha. Bởi vì phương pháp quét pha này có thuật toán đối chiếu như quét, nó có thể xả ra pha sẽ trùng với phổ nhiễu xạ, nhưng thực chất không có trong mẫu.

Trong hội thảo online này, chúng ta sẽ thảo luận những lỗi khi pha bị nhận diện sai. Và điều quan trọng là cách giảm thiểu hay triệt tiêu các lỗi bằng cách thu hẹp tính năng mapping bằng cách hiểu rõ bản chất vật liệu.

Thông tin hội thảo:

  • Thời gian: 13:00 ngày 11/06/2020
  • Thời lượng: 1 tiếng
  • Ngôn ngữ: Tiếng Anh

Diễn giả:

  • Hari Bhaskar, Trưởng phòng giải pháp tự động hóa và quy trình từ Malvern Panalytical

Nội dung:

  • Làm thế nào để đạt được phân tích dữ liệu XRD tốt hơn, cụ thể là trong xác định pha
  • Tầm quan trọng của phân tích nguyên tố trước khi phân tích XRD
  • Công cụ phân tích nguyên tố sàng lọc nhanh được sử dụng trong các viện nghiên cứu

Đối tượng cần tham dự:

  • Các nhà nghiên cứu liên quan đến phân tích đặc tính vật liệu, những người muốn mở rộng kiến thức về nhiễu xạ tia X
  • Các ngành liên quan về nghiên cứu về pin, luyện kim bột, xi măng, khai thác mỏ và khoáng sản, giám sát môi trường, dược phẩm và nhiều hơn nữa
  • R&D và các nhà lãnh đạo sản xuất chịu trách nhiệm lựa chọn phân tích phù hợp
  • Các nhà khoa học tham gia phát triển phương pháp cho các vật liệu mới hoặc hỗ trợ điều tra phân tích nguyên nhân gốc rễ để hỗ trợ sản xuất sản phẩm

Để đăng ký tham dự hội thảo, Quý khách vui lòng liên hệ:

Ms. Nguyễn Thị Mai Trâm

Email: tecinfo.vn@dksh.com

Điện thoại: 0906 654 815

Hoặc đăng ký đầy đủ thông tin như form bên dưới:

Viết bình luận

Bình luận của bạn sẽ được duyệt trước khi đăng lên