Một số tính năng bổ sung sẽ giúp công nghệ XRD nâng lên tầm cao mới.

Dòng máy đo nhiễu xạ tia X Empyrean 3 trước đó được ra mắt. Với quang học đa lõi độc đáo, các nhà nghiên cứu có thể phân tích nhiều mẫu mà không cần bất kỳ sự can thiệp thủ công nào để thay đổi cấu hình quang học. Malvern Panalytical đã cải tiến điều này nhằm hỗ trợ chất lượng dữ liệu tốt hơn, dễ sử dụng, thuận tiện cho phép nghiên cứu nâng cao. Thiết bị đo nhiễu xạ tia X Empyrean series 3 có thể xử lý nhiều loại mẫu khác nhau từ bột, màng mỏng, vật liệu nano,... Hơn thế nữa, bạn có thể tải trước các mẫu trong trình lấy mẫu hàng loạt tự động từ Malvern Panalytical, nhấn nút để phân tích và chuyển sang làm công việc khác. Không còn rắc rối khi thay đổi quang học hoặc chờ thiết bị của bạn kết thúc mỗi thử nghiệm.

Nhiễu xạ tia X cao cấp về tính linh hoạt và hiệu quả trong việc thu thập dữ liệu cũng như chất lượng cuối cùng của dữ liệu. Và xa hơn nữa đối với máy đo nhiễu xạ tia X Empyrean series 3, Malvern Panalytical liên tục đổi mới dòng máy đo nhiễu xạ tia X và các phụ kiện để hỗ trợ nhiều nghiên cứu cao cấp hơn.

DKSH cùng hãng sản xuất Malvern Panalytical mời bạn tham dự webinar giới thiệu về phần bổ sung mới từ Malvern Panalytical cho dòng máy đo nhiễu xạ tia X Empyrean.

Nội dung chương trình:

• Bổ sung quang học đa lõi, xem cách Empyrean đưa chất lượng dữ liệu lên tầm cao mới
• Tìm hiểu những lợi ích mà mô hình này có thể mang lại cho phòng thí nghiệm của bạn và các ứng dụng nghiên cứu cao cấp khác nhau
• Trải nghiệm trình diễn trực tiếp về cách vận hành XRD trên các mẫu khác nhau
  

Thông tin webinar:

• Thời gian: 1PM ngày 27/08/2020
• Ngôn ngữ: Tiếng Anh
• Thời lượng: 1 tiếng
• Diễn giả: Dr Bao ZhaoHui(鲍朝辉) - Chuyên gia ứng dụng nhiễu xạ tia X từ hãng sản xuất Malvern Panalytical

Để đăng ký tham dự hội thảo, Quý khách vui lòng liên hệ:

Ms. Nguyễn Thị Mai Trâm

Email: tecinfo.vn@dksh.com

SĐT: 0906 654 815

Hoặc điền đầy đủ thông tin như form bên dưới để đăng ký: