Giải pháp XRD: Giúp các nhà nghiên cứu đạt được phân tích dữ liệu XRD tốt hơn

Nhiễu xạ tia X (XRD) là kỹ thuật phòng thí nghiệm duy nhất cung cấp thông tin cấu trúc như thành phần hóa học, cấu trúc tinh thể, kích thước tinh thể, biến dạng và độ dày lớp. Do đó, các nhà nghiên cứu vật liệu sử dụng XRD để phân tích một loạt các vật liệu, từ nhiễu xạ tia X trên mẫu bột (XRPD) đến chất rắn, màng mỏng và vật liệu nano.

Điều gì tạo ra phổ nhiễu xạ đạt chuẩn? Làm thế nào để biết đỉnh phổ có bị trôi hay không? Nếu đỉnh phổ bị rộng thì sao? Và nếu tỷ lệ giữ đỉnh và nền cao sẽ như thế nào? Hội thảo online này sẽ giúp bạn cải thiện phân tích dữ liệu của mình.

Nội dung thảo luận:

• Cách thu thập dữ liệu có chất lượng tốt
• Yếu tố tạo nên mẫu phổ nhiễu xạ XRD tốt và không tốt
• Cách phân tích bằng phần mềm HighScore Plus của Malvern Panalytical
• Tùy chọn thông tin cơ bản phù hợp để có những chỉ tiêu chính xác
• Cách phân tích xác định và định lượng pha

Thông tin hội thảo online:

• Thời gian: 13:00 ngày 29/05/2020
• Thời lượng: 1 tiếng
• Ngôn ngữ: Tiếng Anh

Diễn giả:

• Dr Mangesh Mahajan, Chuyên gia giải pháp ứng dụng về nhiễu xạ tia X từ Malvern Panalytical

Đối tượng tham dự:

• Các nhà nghiên cứu liên quan đến phân tích đặc tính vật liệu, những người muốn mở rộng kiến thức về nhiễu xạ tia X
• Các ngành liên quan như ngành nghiên cứu về pin, luyện kim bột, xi măng, chất xúc tác, hóa chất đặc biệt, khai thác và khoáng sản, giám sát môi trường, dược phẩm,...
• R&D và các nhà lãnh đạo sản xuất chịu trách nhiệm lựa chọn phân tích phù hợp
• Các nhà khoa học phát triển phương pháp cho các vật liệu mới hoặc hỗ trợ nghiên cứu phân tích nguyên nhân gốc rễ để hỗ trợ sản xuất sản phẩm

Để đăng ký tham dự hội thảo, Quý khách vui lòng liên hệ:

Ms. Nguyễn Thị Mai Trâm

Email: tecinfo.vn@dksh.com

Điện thoại: 0906 654 815

Hoặc đăng ký đầy đủ thông tin như form bên dưới: